HIKRAYIN ISD-NI-RX85-S09 система контроля дефектов

Система контроля дефектов HIKRAYIN ISD-NI-RX85-S09 представляет собой высокотехнологичную установку закрытого типа, предназначенную для неразрушающего контроля электронных компонентов и качества пайки. В основе устройства лежит мощный генератор с напряжением трубки 90 кВ и крайне малым фокусом пятна в 5 мкм, что в сочетании с матрицей разрешением 1536 × 1536 пикселей обеспечивает исключительную четкость и детализацию изображений. Пространственное разрешение системы составляет 5.8 пар линий на миллиметр, позволяя эффективно инспектировать сложные структуры, такие как BGA-пайка, MOSFET, гибкие печатные платы (FPC) и IGBT-модули.

Механическая часть системы включает в себя просторную зону загрузки 540 × 540 мм и зону инспекции 500 × 400 мм, способную выдерживать изделия весом до 10 кг. Программная часть базируется на интеллектуальном движке Raytina и алгоритмах искусственного интеллекта, которые позволяют в один клик и без предварительной настройки параметров определять коэффициент пустот в шариках припоя и выявлять дефекты.

Интерфейс системы предлагает широкий набор инструментов для измерения расстояний, углов, площадей и кривизны, а также поддерживает функции автоматического слежения за центром при увеличении и синхронную маркировку дефектов как в рентгеновском, так и в видимом спектре через 5-мегапиксельную камеру навигации.

Особое внимание уделено безопасности эксплуатации: уровень внешнего излучения установки не превышает 1 мкЗв/ч, что соответствует строгим международным стандартам. Система оснащена многоуровневым контролем доступа, защитными интерлоками на всех дверях, которые моментально обесточивают источник излучения при открытии, и функцией автоматического перехода в режим защиты при простое более пяти минут.